X射线多晶体转靶衍射仪

日本Rigaku D/max-rB

波数重复性:±(0.2～0.5)cm-1

分辨力;谱线半宽度:

(0.15～0.5)cm-1

(Hg线17269.2cm-1)

检测下限:0.1%～10%

(与构成体系有关)

（教委试行）

2.Sadtler 拉曼标准谱图

1.X射线多晶体衍射通则（教

委试行）

2.国际衍射数据中心PDF卡片

集(无机部分)

Ag、Au、B、Ba、Be、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Dy、Er、Eu、Fe、Gd、Hf、Ho、La、Lu、Mg、Mn、Mo、Na、Nb、Nd、Ni、Sc、Si、Sm、Sn、Sr、Tb、Ti、Tm、V、Y、Yb、Zn、Zr

Al、As、Bi、Ce、Ga、In、Ir、Os、Pb、Pd、Pr、Pt、Re、Rh、Ru、Sb、Se、Ta、Th、Tl、W

0.02μg/ml)

精密度:

≤100%(测定下限)

≤5%(测定10倍下限)

≤2%(测定100倍下限)

检测下限:(0.02μg/ml～0.1μg/ml)

精密度:≤100%(测定下限)

≤5%(测定10倍下限)

≤2%(测定100倍下限)

2.电感耦合等离子体原子发射光谱分析方法通则（教委试行）

Ge、K、Li、P、Rb、S、Te、U

精密度:≤100%(测定下限)

≤5%(测定10倍下限)

≤2%(测定100倍下限)

1-3

无机成份定量分析

①化学定量分析

水质、食品、岩石矿物、化工产品、金属合金材料等中的主要成份含量测定

②无机化合物物相定量分析

分析天平

分光光度计

酸度计

容量、重量分析常用仪器

X射线多晶体转靶衍射仪(外加样品旋转台)

精密度:≤5%(个别视方法而定)

检测下限:0.1%～10%

精密度:≤±100%(含量<1%)

±(50～100)% (含量1%～<3%)

±(10～20)%含量(3%～10%)

≤±5%(含量>10%)

1.《饮料产品与试验方法标准汇编》

2.《锅炉水质分析及节能标准汇编》

3.《环境保护国家标准汇编》

4.《食品卫生国家标准汇编（1）（2）》

5.《有色金属工业产品化学分析方法标准汇编（1）（2）（3）》

6.《有机化工产品试验方法标准汇编》

（中国标准出版社)

1.X射线多晶体衍射通则（教委试行）

2.GB 5225-85 金属材料定量物相分析--X射线K值法