施国顺
女（1946.11），高级工程师。

简历：
1970年毕业于上海理工大学精密仪器专业；
1970-1973，辽宁大连电机厂技术员；
1973-1988，中国科技大学近代物理系核物理教研室助教，讲师；
1988-至今，复旦大学分析测试中心多晶衍射实验室高级工程师。

工作特长：
利用多晶粉末衍射（XRD）对结晶体物质进行物相鉴定，通过与庞大的标准数据库作比对，进行指纹性鉴别；
测定纳米材料晶粒大小，表征材料结构与性能关联性；
利用XRD进行药物研制过程中的检测；
在半导体薄膜生长中进行技术工艺监控。

获奖情况：
2001年中国分析测试协会论文二等奖；
2000年中国分析测试协会论文CAIA三等奖；
2000年上海科技论坛青年学者优秀建议奖；
1999年上海分析测试协会论文一等奖，等等。

代表文章：
1.化学方法制备的四方相纳米Y2O3-ZrO2的X射线与Raman光谱分析 <化学学报>，1996，54。
2.热爆法制备纳米ZnO <复旦学报>，1997，2。
3. Kietveld全谱拟合表征掺杂ZnO陶瓷 <高等学校化学学报>，2000，5。

联系方法：
电话：021-65643010 e-mail: Gshshi@fudan.edu.cn