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三.材料的结构分析

序 号 项 目 名 称 检测仪器 检测限或精密度 相 应 标 准
3-1 多晶体材料的结构测定:

①点阵常数测定

　

②晶体的晶粒大小和应变的测定

③低温多晶体衍射测定

④高温多晶体衍射测定

　

　

X射线多晶体转靶衍射仪

（日本Rigaku D/max-rB)

X射线多晶体转靶衍射仪

（日本Rigaku D/max-rB)

X射线多晶体转靶衍射仪 (外加低温附件)

（日本Rigaku D/max-rB)

X射线多晶体转靶衍射仪 （外加高温附件）

（日本Rigaku D/max-rB)

(外加低温衍射附件)

　 　

测量偏差：〈_0。001nm

可测粒度范围:1nm～200nm

准确度:a.(1nm～<10nm)时

≤±(50～100)%

b.(10nm～<150nm)时

≤±(10～30)%

c.(150nm～<200nm)时

≤±(50～100)%

测温范围:室温-180℃

在真空(0.1Pa）中，

控温精度:<±(1～5)℃

 

测温范围:a.真空(0.1Pa)中室温～1400℃ b.空气中 室温～1300℃

c.He气中室温～1200℃

控温精度:<±(1～5)℃

　

1.X射线多晶体衍射通则（教委试行）

2.GB8360-87金属点阵常数的测定方法，X射线衍射仪法

　

　

1.X射线多晶体衍射通则（教委试行）

　

1.X射线多晶体衍射通则（教委试行）

　

1.X射线多晶体衍射通则（教委试行）

　

序 号 项 目 名 称 检测仪器 检测限或精密度 相 应 标 准
3-2 单晶材料的结构测定:

晶胞参数，各原子位置坐标参数，键长，键角，二面角，平面方程及平面间交角，分子结构图与晶胞图

X射线单晶衍射仪 晶胞参数测定精度:

⑴晶胞边长a,b,c的测量偏差<0.001nm;

⑵晶轴夹角α,β,γ的测量偏差<0.1°.

结构测定精度:

⑴吻合因子R值<0.1

⑵键长、键角数值要与

国际表及有关文献报导的数值可比拟.

结构测定限度:

不对称单位中原子数

<188,独立参数<800

　

1。四圆单晶X射线衍射结构测

定方法通则（教委试行）

2。X射线结晶学国际表（International Tables for X-ray

Crystalligraphy)

 
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